Technostress Scale

Tarafdar, Tu, Ragu-Nathanらの研究者グループ（2007）によって開発されたTechnostress Scaleは、職場における情報技術（IT）の使用に起因する従業員のストレスおよびネガティブな感情を測定するものである。この尺度には、テクノストレスの5つの次元が捉えられている：テクノオーバーロード（技術的要求による過剰な仕事量）、テクノインベージョン（仕事からの切り離しの不可能性）、テクノコンプレキシティ（新技術の習得の困難さ）、テクノインセキュリティ（自動化による失業への恐怖）、およびテクノアンサーティ（技術の絶え間ない変化）。テクノストレスは、生産性の低下、燃え尽き症候群の増加、および仕事への不満と関連付けられている。