Quang phổ photoelectron tia X
Quang phổ photoelectron tia X (XPS), còn được gọi là Quang phổ electron cho Phân tích Hóa học (ESCA), là một kỹ thuật phân tích nhạy với bề mặt, đo năng lượng động học của các photoelectron bị bật ra khỏi vật liệu bởi tia X năng lượng cao. Được phát triển bởi Kai Siegbahn vào năm 1967, XPS xác định thành phần nguyên tố, trạng thái oxy hóa hóa học và liên kết hóa học trong phạm vi khoảng 10 nanomet từ bề mặt. Nó không thể thiếu trong khoa học vật liệu cho đặc trưng bề mặt, nghiên cứu ăn mòn, phân tích oxit và hóa học giao diện.
Đọc toàn bộ phương pháp
Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.
Bản đồ phương pháp
Lân cận của các phương pháp liên quan — chọn một nút để khám phá.
Nguồn tài liệu
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Cách trích dẫn trang này
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/vi/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Phương pháp nào?
Đặt phương pháp này bên cạnh những phương pháp gần gũi nhất với nó và đọc chúng song song — thư viện bày sách lên bàn; lựa chọn là của bạn.
- Phổ tán sắc năng lượng tia XKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Phân tích phổ RamanKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Phân tích nhiễu xạ điện tử vùng chọn lọcKhoa học vật liệu↔ so sánh
Được tham chiếu bởi
Similar methods
Phát hiện lỗi trên trang này? Báo cáo hoặc đề xuất chỉnh sửa →