EXAFS
Cấu trúc Tinh vi Mở rộng Hấp thụ Tia X (EXAFS) là một kỹ thuật phổ kế tia X dựa trên synchrotron, đo cấu trúc hình học và điện tử cục bộ xung quanh một nguyên tử cụ thể trong bất kỳ vật liệu nào, tinh thể hay vô định hình. Được Sayers, Stern và Lytle phát hiện vào năm 1971, EXAFS tiết lộ khoảng cách giữa các nguyên tử, số phối trí và sự rối loạn trong môi trường nguyên tử bằng cách phân tích các dao động trong phổ hấp thụ tia X phía trên một cạnh hấp thụ.
Đọc toàn bộ phương pháp
Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.
Bản đồ phương pháp
Lân cận của các phương pháp liên quan — chọn một nút để khám phá.
Nguồn tài liệu
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Cách trích dẫn trang này
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/spectroscopy/exafs
Phương pháp nào?
Đặt phương pháp này bên cạnh những phương pháp gần gũi nhất với nó và đọc chúng song song — thư viện bày sách lên bàn; lựa chọn là của bạn.
So sánh song song →Được tham chiếu bởi
Phát hiện lỗi trên trang này? Báo cáo hoặc đề xuất chỉnh sửa →