Phổ tán sắc năng lượng tia X
Phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS) là một kỹ thuật phân tích dùng để xác định và định lượng các nguyên tố hóa học trong các vi thể tích mẫu bằng cách phân tích các tia X đặc trưng phát ra trong quá trình bắn phá điện tử. Bắt nguồn từ khám phá của Moseley về các vạch tia X đặc trưng vào năm 1913 và được phát triển thành một công cụ vi phân tích thực tiễn vào những năm 1970, EDS được tích hợp vào kính hiển vi điện tử quét (SEM) và kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) để phân tích nguyên tố có độ phân giải không gian. Kỹ thuật này không thể thiếu trong việc đặc trưng vật liệu để nhận dạng pha, lập bản đồ thành phần và phát triển hợp kim.
Đọc toàn bộ phương pháp
Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.
Bản đồ phương pháp
Lân cận của các phương pháp liên quan — chọn một nút để khám phá.
Nguồn tài liệu
- Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., & Ritchie, R. O. (2017). Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis (3rd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-1-4939-6676-9 ↗
- Reed, S. J. B. (1993). Electron Microprobe Analysis (2nd ed.). Cambridge University Press. link ↗
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
Cách trích dẫn trang này
ScholarGate. (2026, June 3). Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS). ScholarGate. https://scholargate.app/vi/materials-science/energy-dispersive-x-ray-spectroscopy
Phương pháp nào?
Đặt phương pháp này bên cạnh những phương pháp gần gũi nhất với nó và đọc chúng song song — thư viện bày sách lên bàn; lựa chọn là của bạn.
- Kính hiển vi lực nguyên tửKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Phân tích nhiễu xạ điện tử vùng chọn lọcKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Quang phổ photoelectron tia XKhoa học vật liệu↔ so sánh
Được tham chiếu bởi
Similar methods
Phát hiện lỗi trên trang này? Báo cáo hoặc đề xuất chỉnh sửa →