Tinh luyện Rietveld bằng nhiễu xạ tia X (XRD)
Tinh luyện Rietveld bằng nhiễu xạ tia X (XRD) là một phương pháp nhằm trích xuất thông tin chi tiết về cấu trúc tinh thể từ dữ liệu nhiễu xạ bột bằng cách so sánh các mẫu nhiễu xạ quan sát được và tính toán thông qua tinh chỉnh bình phương tối thiểu. Được phát triển bởi Hugo Rietveld vào năm 1969, kỹ thuật này cho phép xác định vị trí nguyên tử, độ chiếm chỗ, tham số nhiệt và phần pha trực tiếp từ dữ liệu bột mà không cần tinh thể đơn. Đây là phương pháp tiêu chuẩn trong đặc trưng vật liệu cho phân tích cấu trúc, nhận dạng pha và định lượng.
Đọc toàn bộ phương pháp
Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.
Bản đồ phương pháp
Lân cận của các phương pháp liên quan — chọn một nút để khám phá.
Nguồn tài liệu
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Cách trích dẫn trang này
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Phương pháp nào?
Đặt phương pháp này bên cạnh những phương pháp gần gũi nhất với nó và đọc chúng song song — thư viện bày sách lên bàn; lựa chọn là của bạn.
- CALPHADKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Phân tích nhiễu xạ điện tử vùng chọn lọcKhoa học vật liệu↔ so sánh
- Quang phổ photoelectron tia XKhoa học vật liệu↔ so sánh
Được tham chiếu bởi
Phát hiện lỗi trên trang này? Báo cáo hoặc đề xuất chỉnh sửa →