Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), также известная как электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА), представляет собой чувствительную к поверхности аналитическую технику, которая измеряет кинетические энергии фотоэлектронов, выбитых из материала высокоэнергетическими рентгеновскими лучами. Разработанная Каем Сигбаном в 1967 году, РФЭС определяет элементный состав, химические степени окисления и химические связи в пределах ~10 нанометров от поверхности. Она незаменима в материаловедении для характеристики поверхности, исследований коррозии, анализа оксидов и химии межфазных границ.
Читать метод полностью
Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.
Карта метода
Окружение родственных методов — выберите узел, чтобы перейти к нему.
Источники
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Как цитировать эту страницу
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ru/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Какой метод?
Поставьте этот метод рядом с ближайшими родственными и прочитайте их бок о бок — библиотека выкладывает книги на стол, а выбор за вами.
- Рентгеноспектральный микроанализ с дисперсией по энергииМатериаловедение↔ сравнить
- Рамановская деконволюцияМатериаловедение↔ сравнить
- Электронная дифракция в выбранной областиМатериаловедение↔ сравнить
Упоминается в
Similar methods
Нашли ошибку на этой странице? Сообщите о ней или предложите исправление →