ScholarGate
Ассистент
Process / pipelineSurface spectroscopy

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), также известная как электронная спектроскопия для химического анализа (ЭСХА), представляет собой чувствительную к поверхности аналитическую технику, которая измеряет кинетические энергии фотоэлектронов, выбитых из материала высокоэнергетическими рентгеновскими лучами. Разработанная Каем Сигбаном в 1967 году, РФЭС определяет элементный состав, химические степени окисления и химические связи в пределах ~10 нанометров от поверхности. Она незаменима в материаловедении для характеристики поверхности, исследований коррозии, анализа оксидов и химии межфазных границ.

Открыть в MethodMindСкороApply, compare, get guidance
Tools & resources
Скачать слайды
Learn & explore
ВидеоСкоро

Читать метод полностью

Только для участников

Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.

Войти

Карта метода

Окружение родственных методов — выберите узел, чтобы перейти к нему.

Источники

  1. Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link
  2. Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link
  3. Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link

Как цитировать эту страницу

ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ru/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy

Какой метод?

Поставьте этот метод рядом с ближайшими родственными и прочитайте их бок о бок — библиотека выкладывает книги на стол, а выбор за вами.

Сравнить рядом

Упоминается в

ScholarGateX-ray Photoelectron Spectroscopy (X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)). Получено 2026-06-17 из https://scholargate.app/ru/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy · Набор данных: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026