X-ray Diffraction Rietveld Refinement

Уточнение по Ритвельду работает на основе подгонки всего профиля дифракционной картины (whole-pattern fitting): полная дифракционная картина рассчитывается по начальной модели структуры и систематически корректируется для соответствия наблюдениям. Метод параметризует кристаллическую структуру (координаты атомов, заселенности позиций, тепловые колебания), геометрию прибора и форму пиков. Минимизируя разницу между наблюдаемой и рассчитанной картинами, получают оптимальные параметры структуры. В отличие от традиционной подгонки отдельных пиков, уточнение всего профиля использует всю доступную информацию, повышая точность и уменьшая неоднозначность.