Рентгеновская спектроскопия тонкой структуры поглощения (EXAFS)

Рентгеновская спектроскопия тонкой структуры поглощения (Extended X-ray Absorption Fine Structure, EXAFS) — это метод рентгеновской спектроскопии на основе синхротронного излучения, который позволяет измерять локальную геометрическую и электронную структуру вокруг определенного атома в любом материале, кристаллическом или аморфном. Метод EXAFS, открытый Сэйерсом, Стерном и Лайтлом в 1971 году, позволяет определить межатомные расстояния, координационные числа и степень неупорядоченности в атомном окружении путем анализа осцилляций в спектре поглощения рентгеновских лучей выше края поглощения.