Атомно-силовая микроскопия
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) — это сканирующая зондовая техника, которая измеряет наноразмерную топографию поверхности и механические свойства путем мониторинга взаимодействий между острым кончиком кантилевера и поверхностью образца. Изобретенная Гердом Биннигом в 1986 году как расширение сканирующей туннельной микроскопии, АСМ не требует ни электрической проводимости, ни работы в вакууме, что делает ее применимой практически к любому материалу. Она предоставляет трехмерные топографические карты с вертикальным разрешением менее нанометра и боковым разрешением, приближающимся к нанометрам, наряду с одновременными измерениями механических, электрических и химических свойств.
Читать метод полностью
Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Источники
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Как цитировать эту страницу
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/ru/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Рентгеноспектральный микроанализ с дисперсией по энергииМатериаловедение↔ compare
- НаноиндентацияМатериаловедение↔ compare
- Электронная дифракция в выбранной областиМатериаловедение↔ compare
Упоминается в
Нашли ошибку на этой странице? Сообщите о ней или предложите исправление →