Электронная дифракция в выбранной области

Электронная дифракция в выбранной области (SAED) — это кристаллографический метод в просвечивающей электронной микроскопии, который позволяет получать дифракционные картины от кристаллических областей размером от микрометра до субмикрометра. Разработанная на основе фундаментальных принципов поведения электронных волн и интегрированная в приборы ПЭМ к середине XX века, SAED обеспечивает прямое наблюдение обратного пространства, симметрии кристаллов и дефектных структур с пространственным разрешением, недостижимым для рентгеновской дифракции. Этот метод необходим для изучения локальной кристаллической структуры, идентификации фаз и характеризации наноматериалов.