Process / pipelineSurface spectroscopy
X線光電子分光法
X線光電子分光法（XPS）は、化学分析用電子分光法（ESCA）としても知られ、高エネルギーX線によって材料から放出される光電子の運動エネルギーを測定する表面感応型分析技術である。1967年にKai Siegbahnによって開発されたXPSは、表面から約10ナノメートルの範囲での元素組成、化学的酸化状態、および化学結合を決定する。表面特性評価、腐食研究、酸化物分析、界面化学において不可欠である。
MethodMindで開く近日公開Apply, compare, get guidance
Tools & resources
Learn & explore
動画近日公開
手法の全文を読む
会員限定
ログイン無料アカウントでログインすると、このセクションを読めます。
手法マップ
関連する手法の近傍 — ノードを選択して探索できます。
出典
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ja/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
どの手法を選ぶ？
この手法を最も近い類縁の手法と並べ、両者を見比べてください — ライブラリは本を机の上に並べるだけ。選ぶのはあなたです。
並べて比較する →