Process / pipelineX-ray Spectroscopy
EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) は、結晶質または非晶質のいずれかの材料中の特定原子の局所的な幾何構造および電子構造を測定するシンクロトロンベースのX線分光法技術である。1971年にSayers、Stern、Lytleによって発見されたEXAFSは、吸収端を超えるX線吸収スペクトルにおける振動を解析することにより、原子間距離、配位数、および原子環境の無秩序性を明らかにする。
手法の全文を読む
会員限定
ログイン無料アカウントでログインすると、このセクションを読めます。
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
出典
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/ja/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →