Process / pipelineElectron crystallography
選択領域電子回折
Selected Area Electron Diffraction (SAED) は、透過型電子顕微鏡における結晶学的手法であり、マイクロメートルまたはサブマイクロメートルサイズの結晶質領域から電子回折パターンを取得する。電子波の挙動の基本原理から発展し、20世紀半ばにTEM装置に統合されたSAEDは、X線回折では達成できない空間分解能で、逆格子空間、結晶対称性、および欠陥構造の直接観察を可能にする。局所的な結晶構造、相同定、およびナノスケール材料の特性評価に不可欠である。
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出典
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/ja/materials-science/selected-area-electron-diffraction
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