Spectroscopie photoélectronique X
La spectroscopie photoélectronique X (SPX), également connue sous le nom de spectroscopie électronique pour l'analyse chimique (ESCA), est une technique analytique sensible à la surface qui mesure les énergies cinétiques des photoélectrons éjectés d'un matériau par des rayons X de haute énergie. Développée par Kai Siegbahn en 1967, la SPX détermine la composition élémentaire, les états d'oxydation chimiques et les liaisons chimiques dans un rayon d'environ 10 nanomètres de la surface. Elle est indispensable en science des matériaux pour la caractérisation des surfaces, les études de corrosion, l'analyse des oxydes et la chimie des interfaces.
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Sources
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Comment citer cette page
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/fr/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
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