Affinage Rietveld par DRX

L'affinage Rietveld par diffraction des rayons X (DRX) est une méthode permettant d'extraire des informations détaillées sur la structure cristalline à partir de données de diffraction sur poudre, en comparant les diagrammes de diffraction observés et calculés par affinage par moindres carrés. Développée par Hugo Rietveld en 1969, cette technique permet de déterminer les positions atomiques, les occupations de site, les paramètres thermiques et les fractions de phase directement à partir de données sur poudre, sans nécessiter de cristaux uniques. C'est l'approche standard en caractérisation des matériaux pour l'analyse structurale, l'identification de phase et la quantification.