Diffraction électronique par zone sélectionnée

La diffraction électronique par zone sélectionnée (SAED) est une technique cristallographique en microscopie électronique en transmission qui obtient des diagrammes de diffraction électronique à partir de régions cristallines de taille micrométrique ou submicrométrique. Développée à partir des principes fondamentaux du comportement des ondes électroniques et intégrée aux instruments TEM au milieu du XXe siècle, la SAED permet l'observation directe de l'espace réciproque, de la symétrie cristalline et des structures de défauts avec une résolution spatiale inatteignable par diffraction des rayons X. Elle est essentielle pour l'étude de la structure cristalline locale, l'identification des phases et la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique.