Microscopie à force atomique
La microscopie à force atomique (MFA) est une technique de microscopie à sonde locale qui mesure la topographie de surface et les propriétés mécaniques à l'échelle nanométrique en surveillant les interactions entre une pointe de cantilever acérée et la surface d'un échantillon. Inventée par Gerd Binnig en 1986 comme une extension de la microscopie à effet tunnel, la MFA ne nécessite ni conductivité électrique ni fonctionnement sous vide, ce qui la rend applicable à pratiquement n'importe quel matériau. Elle fournit des cartes topographiques tridimensionnelles avec une résolution verticale sub-nanométrique et une résolution latérale approchant le nanomètre, ainsi que des mesures simultanées des propriétés mécaniques, électriques et chimiques.
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Sources
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Comment citer cette page
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/fr/materials-science/atomic-force-microscopy
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