EXAFS
La spectroscopie EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) est une technique de spectroscopie par rayons X, basée sur l'utilisation de synchrotron, qui mesure la structure géométrique et électronique locale autour d'un atome spécifique dans tout matériau, qu'il soit cristallin ou amorphe. Découverte par Sayers, Stern et Lytle en 1971, l'EXAFS révèle les distances interatomiques, les nombres de coordination et le désordre dans l'environnement atomique en analysant les oscillations du spectre d'absorption des rayons X au-dessus d'un seuil d'absorption.
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Sources
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Comment citer cette page
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/fr/spectroscopy/exafs
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- ATR-FTIRSpectroscopie↔ compare
- Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)Spectroscopie↔ compare
- XANESSpectroscopie↔ compare
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