SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) เป็นวิธีการแบบนอนพาราเมตริกสำหรับการตรวจหา differential item functioning (DIF) และ differential test functioning (DTF) ซึ่งพัฒนาโดย Shealy และ Stout (1993) แตกต่างจากแนวทางแบบพาราเมตริก SIBTEST ไม่ได้ตั้งสมมติฐานเกี่ยวกับโมเดลการตอบสนองต่อข้อสอบแบบใดแบบหนึ่ง และทดสอบโดยตรงว่ากลุ่มต่างๆ มีความแตกต่างกันในความน่าจะเป็นของการตอบข้อสอบที่ถูกต้องในระดับความสามารถโดยรวมที่เท่ากันหรือไม่
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/th/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- การทดสอบแบบปรับรายการอัตโนมัติเพื่อการวินิจฉัยทางปัญญาการวัดทางจิตวิทยา↔ compare
- โมเดล DINAการวัดทางจิตวิทยา↔ compare
- แบบจำลอง DINOการวัดทางจิตวิทยา↔ compare
- การวิเคราะห์เงื่อนไขที่จำเป็นการวัดทางจิตวิทยา↔ compare
- ระเบียบวิธีปริภูมิแห่งกฎการวัดทางจิตวิทยา↔ compare