เปรียบเทียบวิธี
ดูวิธีที่เลือกเทียบกันแบบเคียงข้าง แถวที่ต่างกันจะถูกเน้นไว้
| SIBTEST× | แบบจำลอง DINO× | |
|---|---|---|
| สาขาวิชา | การวัดทางจิตวิทยา | การวัดทางจิตวิทยา |
| ตระกูล | Latent structure | Latent structure |
| ปีกำเนิด≠ | 1993 | 2006 |
| ผู้ริเริ่ม≠ | Richard Shealy, William F. Stout | James Templin, Russell Henson |
| ประเภท≠ | Differential item functioning (DIF) assessment | Disjunctive latent class model |
| แหล่งต้นตำรับ≠ | Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI ↗ | Templin, J., & Henson, R. A. (2006). Measurement of psychological disorders using cognitive diagnosis models. Psychological Methods, 11(3), 287-305. DOI ↗ |
| ชื่อเรียกอื่น≠ | — | DINO |
| ที่เกี่ยวข้อง≠ | 5 | 4 |
| สรุป≠ | SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is a non-parametric method for detecting differential item functioning (DIF) and differential test functioning (DTF) developed by Shealy and Stout (1993). Unlike parametric approaches, SIBTEST does not assume a particular item response model and directly tests whether groups differ in their probability of correct responses at equal levels of overall ability. | The DINO Model (Deterministic Inputs, Noisy Outputs—Disjunctive) is a cognitive diagnostic model that relaxes DINA's conjunctive (AND) skill requirement logic. DINO assumes an examinee only needs to master one of multiple possible skill pathways to answer an item correctly, making it suitable for scenarios where skills are substitutable or alternative routes to success exist. |
| ScholarGateชุดข้อมูล ↗ |
|
|