Automatické generovanie testovacích vzoriek
Automatické generovanie testovacích vzoriek (ATPG) je automatizované vytváranie testovacích vektorov, ktoré detegujú výrobné chyby v digitálnych obvodoch. ATPG, ktorého priekopníkom bol Roth v roku 1966, systematicky nachádza vstupy, ktoré robia chyby typu „stuck-at“ pozorovateľnými na výstupoch, čím umožňuje komplexnú detekciu chýb. ATPG je kľúčový pre výrobu polovodičov: dosiahnutie vysokej pokrytia testov zaisťuje, že sa expedujú iba bezchybné čipy a identifikujú sa problémy výrobného procesu.
Prečítať celú metódu
Ak si chcete prečítať túto sekciu, prihláste sa s bezplatným účtom.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Zdroje
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Ako citovať túto stránku
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/sk/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Syntéza logikyElektrotechnika↔ compare
- Variácia procesov metódou Monte CarloElektrotechnika↔ compare
- Statická časová analýzaElektrotechnika↔ compare
Odkazujú sem
Našli ste na tejto stránke chybu? Nahláste ju alebo navrhnite opravu →