ScholarGate
Ассистент
Latent structureScale / measurement

Краткая надежность при повторном тестировании

Кратковременная надежность при повторном тестировании количественно определяет, насколько последовательно сокращенная версия измерительного инструмента дает одинаковые баллы при двух введениях, разделенных определенным временным интервалом. Это критически важный этап валидации всякий раз, когда полная шкала укорачивается для практического использования, подтверждая, что сокращение пунктов не ухудшило временную стабильность.

Открыть в MethodMindСкороApply, compare, get guidance
Tools & resources
Скачать слайды
Learn & explore
ВидеоСкоро

Читать метод полностью

Только для участников

Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.

Войти

Карта метода

Окружение родственных методов — выберите узел, чтобы перейти к нему.

Источники

  1. Smith, G. T., McCarthy, D. M., & Anderson, K. G. (2000). On the sins of short-form development. Psychological Assessment, 12(1), 102–111. DOI: 10.1037/1040-3590.12.1.102
  2. Nunnally, J. C., & Bernstein, I. H. (1994). Psychometric Theory (3rd ed.). McGraw-Hill. ISBN: 978-0070474659

Как цитировать эту страницу

ScholarGate. (2026, June 3). Short-form Test-Retest Reliability. ScholarGate. https://scholargate.app/ru/psychometrics/short-form-test-retest-reliability

Какой метод?

Поставьте этот метод рядом с ближайшими родственными и прочитайте их бок о бок — библиотека выкладывает книги на стол, а выбор за вами.

Сравнить рядом
ScholarGateShort-form test-retest reliability (Short-form Test-Retest Reliability). Получено 2026-06-17 из https://scholargate.app/ru/psychometrics/short-form-test-retest-reliability · Набор данных: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026