Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios-X
A Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios-X (XPS), também conhecida como Espectroscopia Eletrônica para Análise Química (ESCA), é uma técnica analítica sensível à superfície que mede as energias cinéticas de fotoelétrons ejetados de um material por raios-X de alta energia. Desenvolvida por Kai Siegbahn em 1967, a XPS determina a composição elementar, os estados de oxidação químicos e as ligações químicas em aproximadamente 10 nanômetros de uma superfície. É indispensável na ciência dos materiais para caracterização de superfícies, estudos de corrosão, análise de óxidos e química de interfaces.
Leia o método completo
Entre com uma conta gratuita para ler esta seção.
Mapa de métodos
A vizinhança de métodos relacionados — selecione um nó para explorar.
Fontes
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Como citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/pt/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Qual método?
Coloque este método ao lado dos seus pares mais próximos e leia-os lado a lado — a biblioteca dispõe os livros sobre a mesa; a escolha é sua.
- Espectroscopia de Raios-X de Dispersão de EnergiaCiência dos materiais↔ comparar
- Desconvolução RamanCiência dos materiais↔ comparar
- Difração de Elétrons de Área SelecionadaCiência dos materiais↔ comparar
Referenciado por
Similar methods
Encontrou um problema nesta página? Relate ou sugira uma correção →