EXAFS
A Espectroscopia de Estrutura Fina de Absorção de Raios X (EXAFS, do inglês Extended X-ray Absorption Fine Structure) é uma técnica de espectroscopia de raios X baseada em síncrotron que mede a estrutura geométrica e eletrônica local em torno de um átomo específico em qualquer material, cristalino ou amorfo. Descoberta por Sayers, Stern e Lytle em 1971, a EXAFS revela distâncias interatômicas, números de coordenação e desordem no ambiente atômico, analisando oscilações no espectro de absorção de raios X acima de uma borda de absorção.
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Fontes
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/pt/spectroscopy/exafs
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