Refinamento Rietveld por DRX

O Refinamento Rietveld por Difração de Raios-X é um método para extrair informações detalhadas da estrutura cristalina a partir de dados de difração em pó, comparando padrões de difração observados e calculados por meio de refinamento por mínimos quadrados. Desenvolvida por Hugo Rietveld em 1969, essa técnica permite a determinação de posições atômicas, ocupâncias, parâmetros térmicos e frações de fase diretamente de dados em pó, sem a necessidade de cristais únicos. É a abordagem padrão na caracterização de materiais para análise estrutural, identificação de fase e quantificação.