Microscopia de Força Atômica
A Microscopia de Força Atômica (AFM) é uma técnica de varredura por sonda que mede a topografia de superfície em nanoescala e propriedades mecânicas, monitorando as interações entre uma ponta de cantiléver afiada e a superfície de uma amostra. Inventada por Gerd Binnig em 1986 como uma extensão da microscopia de tunelamento por varredura, a AFM não requer condutividade elétrica nem operação em vácuo, tornando-a aplicável a praticamente qualquer material. Ela fornece mapas topográficos tridimensionais com resolução vertical subnanométrica e resolução lateral aproximando-se de nanômetros, juntamente com medições simultâneas de propriedades mecânicas, elétricas e químicas.
Leia o método completo
Entre com uma conta gratuita para ler esta seção.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fontes
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Como citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/pt/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Espectroscopia de Raios-X de Dispersão de EnergiaCiência dos materiais↔ compare
- NanoindentaçãoCiência dos materiais↔ compare
- Difração de Elétrons de Área SelecionadaCiência dos materiais↔ compare
Referenciado por
Encontrou um problema nesta página? Relate ou sugira uma correção →