CIPS-testen — Kryss-seksjonelt utvidet IPS panel enhetsrot-test
CIPS-testen, introdusert av Pesaran (2007), er en andregenerasjons panel enhetsrot-test designet for paneler der de kryss-seksjonelle enhetene deler uobserverte fellesfaktorer som induserer kryss-seksjonell avhengighet. Ved å utvide hver individuelle ADF-regresjon med kryss-seksjonelle gjennomsnitt og deres etterslep, tar CIPS-testen hensyn til denne avhengigheten og gir pålitelig inferens der førstegenerasjons tester som den opprinnelige IPS-testen bryter sammen. Den anvendes bredt i makroøkonomiske og finansielle paneler der sjokk forplanter seg på tvers av land eller regioner.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/no/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Tverrsnittsforsterket Dickey-Fuller (CADF)-testØkonometri↔ compare
- Im-Pesaran-Shin (IPS) panelenhetsrot-testØkonometri↔ compare
- PANIC Test: Panel Unit Root Analysis with Common Factor DecompositionØkonometri↔ compare
Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →