Im-Pesaran-Shin (IPS) panelenhetsrot-test
Im-Pesaran-Shin (IPS)-testen, introdusert av Im, Pesaran og Shin i 2003, er en panelenhetsrot-test designet for heterogene paneler der den autoregressive koeffisienten kan variere mellom tverrsnittsenhetene. Den gjennomsnittsberegner individuelle Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistikker og konstruerer en standardisert statistikk med en standard normal grensefordeling, noe som gjør den til en av de mest brukte førstegenerasjons panelenhetsrot-testene innen anvendt økonometri.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/no/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitung panel-enhetstestØkonometri↔ compare
- CIPS-testenØkonometri↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) panelenhetrot-testØkonometri↔ compare
Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →