ScholarGate
Assistent
Hypothesis testPanel unit-root tests (2nd gen)

PANIC Test: Panel Unit Root Analysis with Common Factor Decomposition

PANIC (Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components) er en andre-generasjons panel enhetsrot-test introdusert av Bai og Ng (2004). Den dekomponerer hver panelserie i felles faktorer og idiosynkratiske komponenter, og tester deretter for enhetsrøtter i hver del separat, noe som gjør den robust mot kryss-seksjonell avhengighet — en kritisk begrensning av første-generasjons tester som IPS eller LLC.

Anvend med EconMindSnartVideoSnartDownload slides

Les hele metoden

Kun for medlemmer

Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.

Logg inn

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

PANIC Test: Panel Unit Root Analysis with Common Factor Decomposition
Tverrsnittsforsterket Di…CIPS-testenDynamisk faktormodell

Kilder

  1. Bai, J., & Ng, S. (2004). A PANIC attack on unit roots and cointegration. Econometrica, 72(4), 1127–1177. DOI: 10.1111/j.1468-0262.2004.00528.x

Slik siterer du denne siden

ScholarGate. (2026, June 2). PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components. ScholarGate. https://scholargate.app/no/econometrics/panic-test

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Referert av

ScholarGatePANIC (PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components). Hentet 2026-06-15 fra https://scholargate.app/no/econometrics/panic-test · Datasett: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026