Latent structureItem Bias Detection
SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test)는 Shealy와 Stout (1993)가 개발한, 동시 문항 편향 기능 (differential item functioning, DIF) 및 동시 검사 편향 기능 (differential test functioning, DTF) 탐지를 위한 비모수적 방법이다. 모수적 접근법과 달리 SIBTEST는 특정 문항 반응 모델을 가정하지 않으며, 전체 능력 수준이 동일한 두 집단 간에 정답 확률이 다른지를 직접적으로 검증한다.
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출처
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ko/psychometrics/sibtest
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