Latent structureItem Bias Detection
SIBTEST
SIBTEST（同時項目バイアス検定）は、ShealyとStout（1993）によって開発された、項目別機能差（DIF）およびテスト全体機能差（DTF）を検出するためのノンパラメトリック手法です。パラメトリックアプローチとは異なり、SIBTESTは特定の項目応答モデルを仮定せず、全体的な能力が等しいレベルにおいて、集団間で正答確率が異なるかどうかを直接検定します。
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出典
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ja/psychometrics/sibtest
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