Process / pipelineDigital circuit testing
自動テストパターン生成
自動テストパターン生成（ATPG）は、デジタル回路の製造欠陥を検出するテストベクタの自動生成である。1966年にRothによって開拓されたATPGは、スタック・アット・フォールト（stuck-at fault）を出力で観測可能にする入力を体系的に見つけ出し、包括的なフォールト検出を可能にする。ATPGは半導体製造において極めて重要であり、高いテストカバレッジを確保することで良品のみが出荷され、製造プロセス上の問題が特定される。
手法の全文を読む
会員限定
ログイン無料アカウントでログインすると、このセクションを読めます。
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
出典
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ja/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →