Spettroscopia fotoelettronica a raggi X
La Spettroscopia Fotoelettronica a Raggi X (XPS), nota anche come Spettroscopia Elettronica per l'Analisi Chimica (ESCA), è una tecnica analitica sensibile alla superficie che misura le energie cinetiche dei fotoelettroni espulsi da un materiale da raggi X ad alta energia. Sviluppata da Kai Siegbahn nel 1967, l'XPS determina la composizione elementare, gli stati di ossidazione chimica e i legami chimici entro circa 10 nanometri da una superficie. È indispensabile nella scienza dei materiali per la caratterizzazione delle superfici, studi sulla corrosione, analisi degli ossidi e chimica delle interfacce.
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Fonti
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/it/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
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