Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia
La Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) è una tecnica analitica che identifica e quantifica gli elementi chimici in microvolumi di campioni analizzando i raggi X caratteristici emessi durante il bombardamento elettronico. Radicata nella scoperta delle linee di raggi X caratteristiche di Moseley nel 1913 e sviluppata come pratico strumento microanalitico entro gli anni '70, l'EDS è integrata nei microscopi elettronici a scansione (SEM) e nei microscopi elettronici a trasmissione (TEM) per l'analisi elementare spazialmente risolta. È indispensabile nella caratterizzazione dei materiali per l'identificazione di fase, la mappatura composizionale e lo sviluppo di leghe.
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Fonti
- Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., & Ritchie, R. O. (2017). Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis (3rd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-1-4939-6676-9 ↗
- Reed, S. J. B. (1993). Electron Microprobe Analysis (2nd ed.). Cambridge University Press. link ↗
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS). ScholarGate. https://scholargate.app/it/materials-science/energy-dispersive-x-ray-spectroscopy
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