Raffinement Rietveld per XRD
Il Raffinamento Rietveld per XRD è un metodo per estrarre informazioni dettagliate sulla struttura cristallina dai dati di diffrazione di polveri, confrontando i pattern di diffrazione osservati e calcolati tramite minimi quadrati. Sviluppata da Hugo Rietveld nel 1969, questa tecnica consente la determinazione delle posizioni atomiche, delle occupanze, dei parametri termici e delle frazioni di fase direttamente dai dati di polveri, senza la necessità di cristalli singoli. È l'approccio standard nella caratterizzazione dei materiali per l'analisi strutturale, l'identificazione di fase e la quantificazione.
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Fonti
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/it/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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