EXAFS
La spettroscopia di assorbimento di raggi X a struttura fine estesa (EXAFS) è una tecnica di spettroscopia a raggi X basata su sincrotrone che misura la struttura geometrica ed elettronica locale attorno a un atomo specifico in qualsiasi materiale, cristallino o amorfo. Scoperta da Sayers, Stern e Lytle nel 1971, l'EXAFS rivela distanze interatomiche, numeri di coordinazione e disordine nell'ambiente atomico analizzando le oscillazioni nello spettro di assorbimento dei raggi X al di sopra di una soglia di assorbimento.
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Fonti
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/it/spectroscopy/exafs
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- ATR-FTIRSpettroscopia↔ compare
- La Diffusione a Raggi X ad Angolo PiccoloSpettroscopia↔ compare
- XANESSpettroscopia↔ compare
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