Microscopia a Forza Atomica
La Microscopia a Forza Atomica (AFM) è una tecnica di scansione a sonda che misura la topografia superficiale su nanoscala e le proprietà meccaniche monitorando le interazioni tra una punta acuta di un cantilever e la superficie di un campione. Inventata da Gerd Binnig nel 1986 come estensione della microscopia a effetto tunnel, l'AFM non richiede né conducibilità elettrica né funzionamento sotto vuoto, rendendola applicabile a virtualmente qualsiasi materiale. Fornisce mappe topografiche tridimensionali con risoluzione verticale sub-nanometrica e risoluzione laterale che si avvicina ai nanometri, insieme a misurazioni simultanee di proprietà meccaniche, elettriche e chimiche.
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Fonti
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/it/materials-science/atomic-force-microscopy
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