Test CIPS — Test di radice unitaria aumentata trasversalmente per pannelli IPS

Il test CIPS, introdotto da Pesaran (2007), è un test di radice unitaria per pannelli di seconda generazione, progettato per pannelli in cui le unità sezionali trasversali condividono fattori comuni non osservati che inducono dipendenza sezionale trasversale. Aumentando ciascuna regressione ADF individuale con medie sezionali trasversali e loro ritardi, il test CIPS tiene conto di questa dipendenza e produce inferenze affidabili laddove i test di prima generazione come il test IPS originale falliscono. È ampiamente applicato in pannelli macroeconomici e finanziari dove gli shock si propagano tra paesi o regioni.