Test di radice unitaria per pannelli Im-Pesaran-Shin (IPS)
Il test IPS, introdotto da Im, Pesaran e Shin nel 2003, è un test di radice unitaria per pannelli progettato per pannelli eterogenei in cui il coefficiente autoregressivo è consentito differire tra le unità sezionali. Esso media le statistiche t individuali di Augmented Dickey-Fuller (ADF) e costruisce una statistica standardizzata con una distribuzione limite normale standard, rendendolo uno dei test di radice unitaria per pannelli di prima generazione più ampiamente applicati nell'econometria applicata.
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Fonti
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/it/econometrics/im-pesaran-shin-test
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