SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) est une méthode non paramétrique de détection du fonctionnement différentiel d'items (DIF) et du fonctionnement différentiel de tests (DTF) développée par Shealy et Stout (1993). Contrairement aux approches paramétriques, SIBTEST ne suppose aucun modèle de réponse aux items particulier et teste directement si des groupes diffèrent dans leur probabilité de réponses correctes à des niveaux de compétence globale égaux.
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Sources
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Comment citer cette page
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/fr/psychometrics/sibtest
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