Test CIPS — Test de racine unitaire IPS augmenté en coupe transversale

Le test CIPS, introduit par Pesaran (2007), est un test de racine unitaire de panel de deuxième génération conçu pour les panels dans lesquels les unités de coupe transversale partagent des facteurs communs non observés qui induisent une dépendance en coupe transversale. En augmentant chaque régression ADF individuelle avec les moyennes en coupe transversale et leurs retards, le test CIPS tient compte de cette dépendance et produit une inférence fiable là où les tests de première génération tels que le test IPS original échouent. Il est largement appliqué aux panels macroéconomiques et financiers où les chocs se propagent entre pays ou régions.