طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)، که با نام طیفسنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی (ESCA) نیز شناخته میشود، یک تکنیک تحلیلی حساس به سطح است که انرژیهای جنبشی فوتوالکترونهای گسیل شده از یک ماده توسط پرتوهای ایکس پرانرژی را اندازهگیری میکند. XPS که در سال ۱۹۶۷ توسط کای سیگبان توسعه یافت، ترکیب عنصری، حالتهای اکسیداسیون شیمیایی و پیوندهای شیمیایی را در حدود ۱۰ نانومتر از سطح تعیین میکند. این روش در علم مواد برای مشخصهیابی سطح، مطالعات خوردگی، تجزیه و تحلیل اکسید و شیمی فصل مشترک ضروری است.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
نقشهٔ روش
همسایگی روشهای مرتبط — برای کاوش، یک گره را برگزینید.
منابع
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/fa/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
کدام روش؟
این روش را در کنار نزدیکترین روشهای خویشاوندش بگذارید و آنها را کنار هم بخوانید — کتابخانه کتابها را روی میز میگشاید؛ انتخاب با شماست.
- طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکسعلم مواد↔ مقایسه
- واسازی رامانعلم مواد↔ مقایسه
- پراش الکترون ناحیه انتخابیعلم مواد↔ مقایسه
ارجاعشده در
Similar methods
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →