EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) یک تکنیک طیفسنجی اشعه ایکس مبتنی بر سنکروترون است که ساختار هندسی و الکترونیکی موضعی اطراف یک اتم خاص را در هر ماده، بلورین یا آمورف، اندازهگیری میکند. EXAFS که در سال ۱۹۷۱ توسط Sayers، Stern و Lytle کشف شد، با تحلیل نوسانات در طیف جذب اشعه ایکس بالاتر از لبه جذب، فواصل بین اتمی، تعداد هماهنگی و بینظمی در محیط اتمی را آشکار میسازد.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/fa/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- طیفسنجی فروسرخ تبدیل فوریه بازتاب کل تعدیلشده (ATR-FTIR)طیفسنجی↔ compare
- پراش پرتو ایکس با زاویه کوچک (SAXS)طیفسنجی↔ compare
- ساختار لبه جذب پرتو ایکس (XANES)طیفسنجی↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →