میکروسکوپی نیروی اتمی
میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) یک تکنیک پروب روبشی است که توپوگرافی سطح در مقیاس نانو و خواص مکانیکی را با پایش برهمکنشها بین یک نوک کانتیلوور تیز و سطح نمونه اندازهگیری میکند. AFM که در سال ۱۹۸۶ به عنوان توسعهای از میکروسکوپی تونلزنی روبشی توسط Gerd Binnig اختراع شد، نیازی به رسانایی الکتریکی یا کار در خلاء ندارد و این امر آن را برای تقریباً هر مادهای قابل استفاده میکند. این روش نقشههای توپوگرافیک سهبعدی با وضوح عمودی زیر نانومتر و وضوح جانبی نزدیک به نانومتر، همراه با اندازهگیریهای همزمان خواص مکانیکی، الکتریکی و شیمیایی ارائه میدهد.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/fa/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکسعلم مواد↔ compare
- نانو فرورفتگیعلم مواد↔ compare
- پراش الکترون ناحیه انتخابیعلم مواد↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →