پراش الکترون ناحیه انتخابی
پراش الکترون ناحیه انتخابی (SAED) یک تکنیک بلورنگاری در میکروسکوپ الکترونی عبوری است که الگوهای پراش الکترون را از نواحی بلورین میکرومتری یا زیر میکرومتری به دست میآورد. SAED که از اصول بنیادی رفتار موج الکترون توسعه یافته و تا اواسط قرن بیستم در دستگاههای TEM ادغام شد، امکان مشاهده مستقیم فضای معکوس، تقارن بلور، و ساختارهای نقص را با وضوح مکانی غیرقابل دستیابی توسط پراش اشعه ایکس فراهم میکند. این روش برای مطالعه ساختار بلورین موضعی، شناسایی فاز، و مشخصهیابی مواد در مقیاس نانو ضروری است.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/fa/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- میکروسکوپی نیروی اتمیعلم مواد↔ compare
- طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکسعلم مواد↔ compare
- پالایش ریتولد XRDعلم مواد↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →