طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکس
طیفسنجی پراکنده انرژی پرتو ایکس (EDS) یک تکنیک تحلیلی است که با تحلیل پرتوهای ایکس مشخصه گسیلشده در اثر بمباران الکترونی، عناصر شیمیایی را در ریزحجمهای نمونه شناسایی و کمّی میکند. EDS که ریشه در کشف خطوط پرتو ایکس مشخصه توسط موزلی در سال ۱۹۱۳ دارد و در دهه ۱۹۷۰ به عنوان یک ابزار ریزتحلیلی عملی توسعه یافت، برای تحلیل عنصریِ با تفکیک مکانی در میکروسکوپهای الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپهای الکترونی عبوری (TEM) ادغام شده است. این روش در مشخصهیابی مواد برای شناسایی فاز، نقشهبرداری ترکیبی و توسعه آلیاژها ضروری است.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
نقشهٔ روش
همسایگی روشهای مرتبط — برای کاوش، یک گره را برگزینید.
منابع
- Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., & Ritchie, R. O. (2017). Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis (3rd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-1-4939-6676-9 ↗
- Reed, S. J. B. (1993). Electron Microprobe Analysis (2nd ed.). Cambridge University Press. link ↗
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS). ScholarGate. https://scholargate.app/fa/materials-science/energy-dispersive-x-ray-spectroscopy
کدام روش؟
این روش را در کنار نزدیکترین روشهای خویشاوندش بگذارید و آنها را کنار هم بخوانید — کتابخانه کتابها را روی میز میگشاید؛ انتخاب با شماست.
- میکروسکوپی نیروی اتمیعلم مواد↔ مقایسه
- پراش الکترون ناحیه انتخابیعلم مواد↔ مقایسه
- طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکسعلم مواد↔ مقایسه
ارجاعشده در
Similar methods
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →