Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
La espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS, por sus siglas en inglés), también conocida como espectroscopia electrónica para análisis químico (ESCA), es una técnica analítica sensible a la superficie que mide las energías cinéticas de los fotoelectrones expulsados de un material por rayos X de alta energía. Desarrollada por Kai Siegbahn en 1967, la XPS determina la composición elemental, los estados de oxidación química y los enlaces químicos dentro de aproximadamente 10 nanómetros de una superficie. Es indispensable en la ciencia de materiales para la caracterización de superficies, estudios de corrosión, análisis de óxidos y química de interfaces.
Leer el método completo
Inicia sesión con una cuenta gratuita para leer esta sección.
Mapa de métodos
El vecindario de métodos relacionados: selecciona un nodo para explorarlo.
Fuentes
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Cómo citar esta página
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/es/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
¿Qué método?
Coloca este método junto a sus parientes más cercanos y léelos lado a lado: la biblioteca pone los libros sobre la mesa; la elección es tuya.
- Espectroscopia de rayos X de dispersión de energíaCiencia de materiales↔ comparar
- Deconvolución RamanCiencia de materiales↔ comparar
- Difracción de Electrones de Área SeleccionadaCiencia de materiales↔ comparar
Citado por
Similar methods
¿Has visto un problema en esta página? Infórmanos o sugiere una corrección →