Microscopia de Fuerza Atómica
La microscopia de fuerza atómica (AFM, por sus siglas en inglés) es una técnica de sonda de barrido que mide la topografía superficial y las propiedades mecánicas a nanoescala monitorizando las interacciones entre la punta afilada de una palanca y la superficie de una muestra. Inventada por Gerd Binnig en 1986 como una extensión de la microscopia de túnel de barrido, la AFM no requiere conductividad eléctrica ni operación en vacío, lo que la hace aplicable a prácticamente cualquier material. Proporciona mapas topográficos tridimensionales con resolución vertical subnanométrica y resolución lateral cercana a los nanómetros, junto con mediciones simultáneas de propiedades mecánicas, eléctricas y químicas.
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Fuentes
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/es/materials-science/atomic-force-microscopy
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