Refinamiento Rietveld de DRX
El Refinamiento Rietveld de DRX es un método para extraer información detallada de la estructura cristalina a partir de datos de difracción de polvo, comparando patrones de difracción observados y calculados mediante refinamiento por mínimos cuadrados. Desarrollada por Hugo Rietveld en 1969, esta técnica permite la determinación de posiciones atómicas, ocupaciones, parámetros térmicos y fracciones de fase directamente a partir de datos de polvo sin necesidad de cristales individuales. Es el enfoque estándar en la caracterización de materiales para análisis estructural, identificación de fases y cuantificación.
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Fuentes
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/es/materials-science/xrd-rietveld-refinement
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