EXAFS
La Estructura Fina de Absorción de Rayos X Extendida (EXAFS) es una técnica de espectroscopia de rayos X basada en sincrotrón que mide la estructura geométrica y electrónica local alrededor de un átomo específico en cualquier material, cristalino o amorfo. Descubierta por Sayers, Stern y Lytle en 1971, EXAFS revela distancias interatómicas, números de coordinación y desorden en el entorno atómico mediante el análisis de las oscilaciones en el espectro de absorción de rayos X por encima de un borde de absorción.
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Fuentes
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/es/spectroscopy/exafs
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- ATR-FTIREspectroscopia↔ compare
- Dispersión de Rayos X a Ángulos Pequeños (SAXS)Espectroscopia↔ compare
- XANESEspectroscopia↔ compare
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